Normal view
MARC view
Применение ГВЧ имиджинга для дефектоскопии элементов микроэлектроники с высоким разрешением С. Н. Жакупов, А. В. Бадьин
Material type:![Article](/opac-tmpl/lib/famfamfam/AR.png)
No physical items for this record
Библиогр.: 3 назв.
There are no comments on this title.