Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Явление нарушенного полного внутреннего отражения в ближнепольном интерференционном СВЧ-зондировании В. П. Беличенко, А. С. Запасной, А. С. Мироньчев [и др.]

Contributor(s): Запасной, Андрей Сергеевич | Мироньчев, Александр Сергеевич | Клоков, Андрей Владимирович | Матвиевский, Ефим Владимирович | Беличенко, Виктор ПетровичMaterial type: ArticleArticleSubject(s): ближнее поле | нарушенное полное внутреннее отражение | ближнепольные интерференционные микроскопы | диагностикаGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 63, № 2. С. 44-49Abstract: Предложен новый подход в задачах активного ближнепольного сверхвысокочастотного зондирования материалов, объектов и сред. Согласно ему, зондирующее ближнее поле образуется в результате перекрытия эванесцентных полей, возникающих в условиях нарушенного полного внутреннего отражения в промежутке между большими гранями двух прямоугольных диэлектрических призм. Помещение исследуемого объекта в этот промежуток оказывает заметное влияние на характеристики отраженного излучения. На этой основе может быть произведена не только диагностика качества объекта, но и получены данные о его материальных параметрах. Описано схемное решение ближнепольного интерференционного сверхвысокочастотного микроскопа, реализующего предложенный подход. Представлены результаты тестовых измерений в условиях диагностики металлизированных полосок с разрывами.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 15 назв.

Ограниченный доступ

Предложен новый подход в задачах активного ближнепольного сверхвысокочастотного зондирования материалов, объектов и сред. Согласно ему, зондирующее ближнее поле образуется в результате перекрытия эванесцентных полей, возникающих в условиях нарушенного полного внутреннего отражения в промежутке между большими гранями двух прямоугольных диэлектрических призм. Помещение исследуемого объекта в этот промежуток оказывает заметное влияние на характеристики отраженного излучения. На этой основе может быть произведена не только диагностика качества объекта, но и получены данные о его материальных параметрах. Описано схемное решение ближнепольного интерференционного сверхвысокочастотного микроскопа, реализующего предложенный подход. Представлены результаты тестовых измерений в условиях диагностики металлизированных полосок с разрывами.

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share