Моделирование структурного состояния аморфных фаз наноразмерного SiO2 В. В. Сызранцев, Ю. А. Абзаев
Material type:
ArticleSubject(s): Ритвельда метод | аморфные фазы | структурные состояния | фазовый анализ | имитационное моделирование | рентгеноструктурный анализGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online
In:
Известия высших учебных заведений. Физика Т. 62, № 12. С. 49-54Abstract: Методами рентгеноструктурного анализа и имитационного моделирования проведено исследование структурного состояния наночастиц SiO2, синтезированного плазмохимическим и жидкофазным методами. Проведено моделирование аморфного состояния элементарной ячейки фазы SiO2 в рамках молекулярной динамики. Из первых принципов показано, что полученная ячейка SiO2 является стабильной. Установлено, что наночастицы находятся в аморфном состоянии. В результате уточнения параметров модельной фазы SiO2 методом Ритвельда установлена полная структурная информация, определены параметры примитивных ячеек, пространственное распределение атомов, занятость узлов ячеек.
Библиогр.: 12 назв.
Ограниченный доступ
Методами рентгеноструктурного анализа и имитационного моделирования проведено исследование структурного состояния наночастиц SiO2, синтезированного плазмохимическим и жидкофазным методами. Проведено моделирование аморфного состояния элементарной ячейки фазы SiO2 в рамках молекулярной динамики. Из первых принципов показано, что полученная ячейка SiO2 является стабильной. Установлено, что наночастицы находятся в аморфном состоянии. В результате уточнения параметров модельной фазы SiO2 методом Ритвельда установлена полная структурная информация, определены параметры примитивных ячеек, пространственное распределение атомов, занятость узлов ячеек.
There are no comments on this title.