Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Измерение времени жизни неравновесных носителей заряда в поликристаллическом кремнии СВЧ-методом М. А. Тимофеева, А. Г. Левашкин, А. И. Башкиров, Л. Г. Лапатин

Contributor(s): Левашкин, Андрей Геньевич | Башкиров, Александр Иванович | Лапатин, Леонид Григорьевич | Тимофеева, Мария АлександровнаMaterial type: ArticleArticleOther title: Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in poly-crystalline silicon by a microwave technique [Parallel title]Subject(s): поликристаллический кремний | СВЧ-излучение | носители заряда | неравновесные носители заряда | время жизни | измерениеGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: Инноватика - 2019 : сборник материалов XV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-27 апреля 2019 г., г. Томск, Россия С. 76-81Abstract: The article is devoted to the possibilities of measuring the lifetime of nonequilibrium charge carriers in polycrystalline silicon by microwave method. The results of measurements of the lifetime in the samples of polycrystalline silicon
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 2 назв.

The article is devoted to the possibilities of measuring the lifetime of nonequilibrium
charge carriers in polycrystalline silicon by microwave method. The results of
measurements of the lifetime in the samples of polycrystalline silicon

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share