Normal view
MARC view
Robust PDFs testing of combinational circuits based on covering BDDs A. Y. Matrosova, E. A. Nikolaeva, S. A. Ostanin, V. Singh
Material type: ArticleSubject(s): задержки путей схемы | робастно тестируемый путь | бинарные решающие программы | контролепригодное проектирование | ПЛИСGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 3 (20). С. 129-138No physical items for this record
Библиогр.: 15 назв.
There are no comments on this title.