Normal view
MARC view
Selection of the flip-flops for partial enhanced scan techniques A. Y. Matrosova, A. V. Melnikov, R. V. Mukhamedov, S. A. Ostanin, V. Singh
Material type: ArticleSubject(s): задержки путей схемы | триггеры | робастно тестируемый путь | эквивалентная нормальная форма | алгоритмыGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 2 (19). С. 112-120No physical items for this record
Библиогр.: 7 назв.
There are no comments on this title.