О механизме генерации убегающих электронов после пробоя промежутка Д. В. Белоплотов, В. Ф. Тарасенко, В. А. Шкляев, Д. А. Сорокин
Material type:![Article](/opac-tmpl/lib/famfamfam/AR.png)
Библиогр.: 24 назв.
Ограниченный доступ
Представлены данные, объясняющие генерацию убегающих электронов после пробоя промежутка с резко неоднородным распределением напряженности электрического поля. Используя специальную методику измерения тока смещения, вызванного появлением и движением стримера, осуществлена при-вязка осциллограмм напряжения и тока убегающих электронов друг к другу, а также к динамике фор-мирования стримера, которая регистрировалась с помощью четырехканальной ICCD камеры. Показано,что первый пучок убегающих электронов генерируется в окрестности острийного катода в момент по-явления стримера. Второй пучок убегающих электронов генерируется в момент прихода на острийный катод обратной волны ионизации. Предполагается, что генерация второго пучка убегающих электронов происходит в катодном слое. Это подтверждается тем, что второй пучок убегающих электронов отсут-ствует в тех реализациях разряда, при которых наблюдается свечение катодного пятна до замыкания промежутка плазмой.
There are no comments on this title.