Normal view
MARC view
Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения В. П. Беличенко, А. С. Запасной, А. С. Мироньчев [и др.]
Material type: ArticleContent type: Текст Media type: электронный Subject(s): СВЧ-излучение | полное внутреннее отражение | интерференционная микроскопия | ближнепольный микроволновый микроскопGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: Актуальные проблемы радиофизики АПР 2019 : 8-я Международная научно-практическая конференция, 1-4 октября 2019 года, г. Томск : сборник трудов конференции С. 84-86No physical items for this record
Библиогр.: 10 назв.
There are no comments on this title.