Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

    • Your search returned 5 results.

    1.
    No cover image available
    Точечные дефекты в полупроводниках теория М. Ланно, Ж. Бургуэн ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича

    by Ланно, Мишель | Бургуэн, Жак | Гуревич, В. Л [edt].

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Language: Russian Original language: English Publication details: Москва Мир 1984Other title: Point defects in semiconductors J..Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    2.
    Волновая механика и ее применения Н. Мотт, И. Снеддон; пер. с англ. В. Л. Гуревича

    by Мотт, Невилл Френсис, 1905-1996 | Снеддон, Иан Нейсмит [com] | Гуревич, В. Л [trl].

    Edition: Изд. 3-е, стер.Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Language: Russian Publication details: Москва URSS [и др.] 2007Other title: Wave mechanics and its application.Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    3.
    No cover image available
    Точечные дефекты в металлах Введение в теорию Г. Лейбфрид, Н. Бройер; Перевод с англ. Ю. М. Гальперина и др.

    by Лейбфрид, Г | Бройер, Н | Гуревич, В. Л [редактор].

    Material type: Text Text; Format: print Publication details: М. Мир 1981Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    4.
    No cover image available
    Точечные дефекты в полупроводниках экспериментальные аспекты Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича

    by Бургуэн, Жак | Ланно, Мишель | Гуревич, В. Л [edt].

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Publication details: Москва Мир 1985Other title: Point Defects in Semiconductors.Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    5.
    No cover image available
    Методы менеджмента качества. Методология управления риском стандартизации Учебное пособие Белорусский национальный технический университет

    by Серенков, П.С | Гуревич, В. Л | Романчак, В. М | Янушкевич, А. В.

    Series: Высшее образование: МагистратураMaterial type: Text Text; Format: electronic available online remote Publication details: Москва ООО "Научно-издательский центр ИНФРА-М" 2018Online access: Click here to access online | Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart