Normal view
MARC view
Построение проверяющих тестов для одиночных и кратных неисправностей на полюсах элементов схем, синтезированных на базе ПЛИС (FPGA)-технологий А. Ю. Матросова, Е. С. Луковникова
Material type:![Article](/opac-tmpl/lib/famfamfam/AR.png)
No physical items for this record
Библиогр.: 10 назв.
There are no comments on this title.