Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (5)
-
Authors
-
Locations
- Книгохранилище (5)
-
Item types
-
Topics
- монокристаллы, дефекты структуры (3)
- Бормана эффект (2)
- Монокристаллы (2)
- гетероструктуры многослойные (2)
- дефекты монокристаллов (2)
- дислокационные структуры (2)
- излучение синхротронное (2)
- монокристаллы полупроводников (2)
- монокристаллы, микродефекты (2)
- наноструктуры (2)
- тонкие пленки (2)
- топографические изображения, дефекты монокристаллов (2)
- цифровая обработка изображений (2)
- электронная микроскопия (2)
- эпитаксиальные слои (2)
- Дефекты (1)
- Инденбома-Чамрова уравнения модифицированные (1)
- Кремний, карбид (1)
- аппаратно-программное обеспечение (1)
- вейвлет-анализ (1)
- дефекты кристаллов (1)
- дефекты монокристаллов, цифровая обработка изображений (1)
- дефекты упаковки в монокристаллах (1)
- дислокации (1)
- кристаллические решетки (1)
- макрополя деформаций (1)
- методы исследований кристаллов (1)
- микродефекты кристаллов (1)
- многослойные оптические структуры (1)
- монокристаллические материалы, дефекты (1)
- монокристаллы, выращивание (1)
- монокристаллы, дислокации (1)
- наноразмерные дефекты (1)
- оптические изображения, дефекты монокристаллов (1)
- поликристаллы (1)
- полупроводники монокристаллические (1)
- полупроводниковые материалы (1)
- полупроводниковые структуры, дефекты (1)
- поляризационно-оптические изображения (1)
- поляризационно-оптические изображения монокристаллов (1)
- поляризационно-оптический анализ (1)
- программы цифровой обработки изображений дефектов монокристаллов (1)
- производство интегральных микросхем (1)
- производство полупроводниковых приборов (1)
- резонансные методы (1)
- рентгеновская топография (1)
- рентгенотопографические изображения (1)
- рентгенотопографические изображения монокристаллов (1)
- синхротронное излучение (1)
- топография рентгеновская секционная (1)
- Show more
- Show less