|
|
1.
|
Investigation of Si/Ge p-i-n structures with Ge quantum dots by admittance spectroscopy methods A. G. Korotaev, A. A. Pishchagin, A. P. Kokhanenko, A. I. Nikiforov by Korotaev, Alexander G | Kokhanenko, Andrey P | Nikiforov, Alexander I | Pishchagin, Anton A | Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники | Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ | Томский государственный университет Научное управление Лаборатории НУ. Source: СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : 25-я Международная Крымская конференция (КрыМиКо'2015), 6-12 сентября 2015 г., Севастополь, Крым, Россия : материалы конференции : в 2 т. Т. 2Material type:  Article; Format:
electronic
available online
 ; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Online access: Click here to access online Availability: No items available :
|
|
|
2.
|
|
|
|
3.
|
Ge/Si elongated quantum dots formation modelling with respect to the energy of edges A. P. Kokhanenko, K. A. Lozovoy, A. V. Voitsekhovskii by Kokhanenko, Andrey P | Lozovoy, Kirill A | Voytsekhovskiy, Alexander V | Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники | Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ | Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ. Source: СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : 25-я Международная Крымская конференция (КрыМиКо'2015), 6-12 сентября 2015 г., Севастополь, Крым, Россия : материалы конференции : в 2 т. Т. 2Material type: Article; Format:
electronic
available online
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Online access: Click here to access online Availability: No items available :
|
