Normal view
MARC view
Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIII BV и контактов металл/AIII BV методом атомно-силовой микроскопии диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.10 Новиков Вадим Александрович ; науч. рук. Ивонин И. В., Торхов Н. А. ; Том. гос. ун-т
Material type:
TextPublication details: Томск [б. и.] 2010Description: 133 л. илSubject(s): физика полупроводников | диссертации | поверхности полупроводников | атомно-силовая микроскопия | металл-полупроводник, система контактная | фрактальные методы | полупроводники арсенидгаллиевые | тонкие пленки | подложки арсенидгаллиевые | эпитаксиальные пленки арсенидгаллиевые
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-987182к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000746601 |
Библиогр.: л. 113 - 119
There are no comments on this title.