Normal view
MARC view
Масс-спектрометрический метод определения следов А. Ахерн, Д. Францен, Р. Герцог и др. ; Пер. с англ. : Л. Ф. Грушко и Г. И. Рамендика; Под ред. М. С. Чупахина
Material type:
TextLanguage: Russian Original language: English Description: 543, [3] с. илOther title: Trase analysis by mass spectrometry [Parallel title]Subject(s): масс-спектрометрия искровая | твердые вещества | электрические разряды | ионные токи | элементный анализ | микропримеси | пленки тонкие полупроводниковые | пленки тонкие металлические | примеси | тонкие пленки | масс-спектрометры | физика электрического разряда | сверхчистые материалы
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-202118к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000927344 | ||
| 1 месяц | Книгохранилище | 1-210414 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000926982 | ||
| 6 месяцев | Абонемент. Депозитарий | 543 М321 (Browse shelf (Opens below)) | 1 | Available | 13820000355100 | |
| 6 месяцев | Абонемент. Депозитарий | 543 М321 (Browse shelf (Opens below)) | 2 | Available | 13820000453095 |
В содерж. авт.: А. Ахерн, Д. Францен, Р. Герцог и др.
Библиогр. в конце разделов
Предм. указ.: с. 445-447
There are no comments on this title.