Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

  • Your search returned 9 results.

    1.
    The influence of electron-beam treatment on the structure of a TiNi powder alloy obtained by calcium-hydride reduction S. G. Anikeev, N. V. Artyukhova, M. I. Kaftaranova [et al.]

    by Anikeev, Sergey G | Artyukhova, Nadezhda V | Kaftaranova, Maria I | Khodorenko, Valentina N | Yakovlev, Evgeny V | Markov, Alexey B | Promakhov, Vladimir V | Mamazakirov, Oibek R.

    Source: Journal of surface investigation: X-ray, synchrotron and neutron techniquesMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    2.
    Усталостная прочность закаленной стали 20Х13, подвергнутой электронно-пучковому модифицированию Ю. Ф. Иванов, Д. А. Бессонов, С. В. Воробьев и др.

    by Бессонов, Даниил Александрович | Воробьев, Сергей Владимирович | Громов, Виктор Евгеньевич, 1947- | Иванов, Константин Вениаминович | Колубаева, Юлия Александровна | Целлермаер, Владимир Яковлевич, 1949- | Иванов, Юрий Федорович, 1955- | Томский государственный университет Физический факультет Научные подразделения ФФ.

    Source: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследованияMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    3.
    Структура и фазовый состав системы хром–кремний, модифицированной сильноточными электронными пучками В. В. Углов, Н. Т. Квасов, Ю. А. Петухов и др.

    by Квасов, Николай Трофимович | Петухов, Юрий Александрович | Коваль, Николай Николаевич | Иванов, Юрий Федорович, 1955- | Тересов, Антон Дмитриевич | Углов, Владимир Васильевич | Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики плазмы.

    Source: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследованияMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    4.
    Микроструктура и фазовый состав системы циркониевое покрытие–кремний, обработанной сильноточными электронными пучками В. В. Углов, Н. Н. Коваль, Ю. Ф. Иванов и др.

    by Коваль, Николай Николаевич | Иванов, Юрий Федорович, 1955- | Петухов, Юрий Александрович | Калин, А. В | Тересов, Антон Дмитриевич | Углов, Владимир Васильевич | Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики плазмы | Томский государственный университет Физический факультет Научные подразделения ФФ.

    Source: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследованияMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    5.
    Введение в растровую электронную микроскопию Г. В. Сапарин ; Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Физический фак.

    by Сапарин, Геннадий Васильевич.

    Series: ФизикаMaterial type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Publication details: Москва Издательство Московского университета 1990Availability: No items available :
    6.
    Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии С. Дж. Б. Рид ; пер. с англ. Д. Б. Петрова [и др.]

    by Рид, Стефан Дж. Б.

    Series: Мир наук о ЗемлеMaterial type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Language: Russian Publication details: Москва Техносфера 2008Availability: No items available :
    7.
    8.
    9.
    Фундаментальные основы анализа нанопленок Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. рус. изд. А. Н. Образцов ; Московский гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образовательный центр по нанотехнологиям

    by Альфорд, Терри Л | Фельдман, Леонард К | Майер, Джеймс В, 1930- | Образцов, А. Н [edt].

    Series: Фундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебникиMaterial type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Language: Russian Original language: English Publication details: Москва Научный мир 2012Other title: Fundamentals of nanoscale film analysis.Availability: No items available :