Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (15)
-
Authors
- Баженов, Сергей Леонидович (3)
- Брандон, Дэвид (2)
- Быков, Сергей Юрьевич (2)
- Каплан, У. (2)
- Сергеев, Алексей Георгиевич (2)
- Схиртладзе, Сергей Александрович (2)
- Груздов, Вадим Владимирович (1)
- Егорова, Мария Анатольевна (1)
- Егорова, О. В. (1)
- Заккаи, Джозеф (1)
- Заккаи, Натан (1)
- Захарчук, Леонид Михайлович (1)
- Кларк, Эшли Р. (1)
- Колковский, Юрий Владимирович (1)
- Концевой, Юлий Абрамович (1)
- Круглов, Дмитрий Семенович (1)
- Мещеряков, Юрий Иванович (1)
- Нетрусов, Александр Иванович (1)
- Пахомов, Павел Михайлович (1)
- Сердюк, Игорь (1)
- Фахльман, Бредли Д. (1)
- Ханина, Миниса Абдуллаевна (1)
- Химич, Маргарита Андреевна (1)
- Эберхардт, Колин Н. (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (10)
- Читальный зал 5 (6)
- Абонемент. Депозитарий (5)
- Абонемент (4)
- Факультетская библиотека (4)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (10)
- 6 месяцев (7)
- Выдается по месту хранения (4)
- 1 неделя (2)
- 1 месяц (2)
-
Topics
- оптическая микроскопия [x]
- электронная микроскопия (12)
- атомно-силовая микроскопия (3)
- кристаллические структуры (3)
- сканирующая зондовая микроскопия (3)
- учебные издания для вузов (3)
- Брэгга уравнение (2)
- Лауэ уравнение (2)
- Метрологическое обеспечение (2)
- Нанотехнологии (2)
- Оже-электроны (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- дифракционный анализ (2)
- дифракция электронов (2)
- жидкие кристаллы (2)
- интерференционная микроскопия (2)
- интерференционные измерения (2)
- испытания материалов (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- кристаллические решетки (2)
- магнитные методы контроля (2)
- металлы (2)
- микроскопия ближнепольная (2)
- наноизмерения (2)
- наноиндустрия (2)
- нанометрологическое оборудование (2)
- нанометрология (2)
- неопределенность наноизмерений (2)
- нестабильность наноизмерений (2)
- поверка нанометрологического оборудования (2)
- полупроводники (2)
- рентгеновская дифракция (2)
- рентгеновский микроанализ (2)
- сертификация наноиндустрии (2)
- спектроскопия наноматериалов (2)
- стандартизация наноиндустрии (2)
- точность наноизмерений (2)
- хроматография наноматериалов (2)
- электронная микроскопия просвечивающая (2)
- электронная микроскопия растровая (2)
- электронные микроскопы растровые измерительные (2)
- ядерный магнитный резонанс (2)
- ДНК механика (1)
- Дефектоскопия ультразвуковая (1)
- ИК-спектроскопия (1)
- Кикучи диаграммы (1)
- Конструкционные материалы (1)
- Материалы (1)
- Микробиология (1)
- Микроскопические исследования (1)
- Show more
- Show less