Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Абонемент. Депозитарий (2)
- Книгохранилище (2)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (2)
- 6 месяцев (2)
-
Topics
- Метрологическое обеспечение (2)
- Нанотехнологии (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- интерференционные измерения (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- микроскопия ближнепольная (2)
- наноизмерения (2)
- наноиндустрия (2)
- нанометрологическое оборудование (2)
- нанометрология (2)
- неопределенность наноизмерений (2)
- нестабильность наноизмерений (2)
- оптическая микроскопия [x]
- поверка нанометрологического оборудования (2)
- сертификация наноиндустрии (2)
- сканирующая зондовая микроскопия (2)
- спектроскопия наноматериалов [x]
- стандартизация наноиндустрии (2)
- точность наноизмерений (2)
- хроматография наноматериалов (2)
- электронная микроскопия (2)
- электронные микроскопы растровые измерительные (2)
- Show more
- Show less