Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (10)
-
Authors
- Сергеев, Алексей Георгиевич (2)
- Алхимов, Анатолий Павлович (1)
- Альфорд, Терри Л. (1)
- Батаев, Анатолий Андреевич (1)
- Батаев, Владимир Андреевич (1)
- Валиев, Хаммат Хафизович (1)
- Карнет, Юлия Николаевна (1)
- Карпасюк, Владимир Корнильевич (1)
- Лич, Ричард К. (1)
- Майер, Джеймс В. (1)
- Нан Яо (1)
- Образцов, А. Н. (1)
- Смирнов, Андрей Михайлович (1)
- Снегирева, Наталия Сергеевна (1)
- Фахльман, Бредли Д. (1)
- Фельдман, Леонард К. (1)
- Фомин, Дмитрий Владимирович (1)
- Чжун Лин Ван (1)
- Яминский И. В. (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
-
Item types
- Выдается в читальный зал (7)
- 6 месяцев (3)
- Выдается по месту хранения (3)
- 1 неделя (2)
- 1 месяц (1)
-
Topics
- сканирующая зондовая микроскопия [x]
- электронная микроскопия (5)
- Нанотехнологии (3)
- наноизмерения (3)
- оптическая микроскопия (3)
- Метрологическое обеспечение (2)
- Структура (2)
- атомно-силовая микроскопия (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- взаимодействие излучения с веществом (2)
- дифракция рентгеновских лучей (2)
- интерференционные измерения (2)
- ионная бомбардировка (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- микроскопия ближнепольная (2)
- наноиндустрия (2)
- нанометрологическое оборудование (2)
- нанометрология (2)
- неопределенность наноизмерений (2)
- нестабильность наноизмерений (2)
- поверка нанометрологического оборудования (2)
- растровая электронная микроскопия (2)
- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (2)
- рентгеноспектральный микроанализ (2)
- сертификация наноиндустрии (2)
- спектроскопия наноматериалов (2)
- стандартизация наноиндустрии (2)
- точность наноизмерений (2)
- хроматография наноматериалов (2)
- электронная микроскопия просвечивающая (2)
- электронные микроскопы растровые измерительные (2)
- Исследование (1)
- Металлы (1)
- Оже-электронная спектроскопия (1)
- Оже-электронная спектроскопия, метод исследования (1)
- Тонкие пленки (1)
- ЭПР-спектрометры (1)
- Электронная микроскопия [x]
- акустический контроль (1)
- аналитические технологии нанопленок (1)
- атомно-зондовая томография (1)
- атомные столкновения (1)
- атомный спектральный анализ (1)
- безызлучательные переходы (1)
- взаимодействие частиц с веществом (1)
- взаимодействие электромагнитного излучения с веществом (1)
- взаимодействие эритроцитов с мембранами полимерными (1)
- гетерогенные системы структурированные (1)
- датчики (1)
- движение жидкостей в пористой структуре мембран (1)
- Show more
- Show less