Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (3)
-
Authors
- Баженов, Сергей Леонидович (1)
- Волков, Николай Викторович (1)
- Калин, Борис Александрович (1)
- Карпасюк, Владимир Корнильевич (1)
- Кларк, Эшли Р. (1)
- Скрытный, Владимир Ильич (1)
- Смирнов, Андрей Михайлович (1)
- Филиппов, Валентин Петрович (1)
- Эберхардт, Колин Н. (1)
- Яльцев, Валерий Николаевич (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (3)
- Читальный зал 5 (1)
-
Item types
-
Topics
- электронная микроскопия просвечивающая [x]
- электронная микроскопия растровая (3)
- ядерный магнитный резонанс [x]
- EXAFS-спектроскопия материалов (1)
- Конструкционные материалы (1)
- Мессбауэра эффект (1)
- Микроскопические исследования (1)
- Микроскопы мезооптические (1)
- Рентгенотехника (1)
- автоионная микроскопия (1)
- авторадиография аналитическая (1)
- активационный анализ (1)
- акустическая микроскопия (1)
- аналогоцифровые преобразователи (1)
- взаимодействие излучения с веществом (1)
- взаимодействие электромагнитного излучения с веществом (1)
- взаимодействие электромагнитного излучения с материалом (1)
- волокнистые материалы (1)
- дифракционные методы исследования материалов (1)
- ионная масс-спектрометрия вторичная (1)
- ионные методы исследования материалов (1)
- картография ультразвуковая трехмерная (1)
- компьютерная оптическая микроскопия (1)
- константы упругости (1)
- масс-спектрометрия вторичных ионов (1)
- микроскопия интерференционная (1)
- микроскопы конфокальные (1)
- нейтронография (1)
- обработка изображений (1)
- оже-спектроскопия (1)
- оптика пучков частиц (1)
- оцифровка (1)
- пленки (1)
- полиметилметакрилат (1)
- резерфордовское обратное рассеяние (1)
- рентгеновская микроскопия (1)
- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (1)
- рентгеновские лучи (1)
- рентгенографический анализ (1)
- рентгеноспектральный анализ (1)
- рентгеноспектральный микроанализ (1)
- рентгеноструктурный анализ (1)
- сканирующая зондовая микроскопия (1)
- спектроскопия позитронная аннигиляционная (1)
- стеклопластики (1)
- структурный анализ кристаллов (1)
- томография компьютерная рентгеновская (1)
- томография оптическая (1)
- туннельная микроскопия сканирующая (1)
- углепластики (1)
- Show more
- Show less