Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

    • Your search returned 2 results.

    1.
    No cover image available
    Применение метода фототока p - n перехода для измерения параметров полупроводниковых материалов И. М. Котина, Н. Е. Мазурик, С. Р. Новиков ; Акад. наук СССР, Физ-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе

    by Котина, Ирина Михайловна | Мазурик, Н. Е | Новиков, С. Р.

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Publication details: Ленинград [б. и.] 1970Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    2.
    No cover image available
    Методы измерения параметров полупроводниковых материалов [учебник для вузов по специальности "Полупроводниковые и микроэлектронные приборы"] Л. П. Павлов

    by Павлов, Лев Павлович.

    Edition: Изд. 2-е, перераб. и доп.Material type: Text Text; Literary form: Not fiction Publication details: Москва Высшая школа 1987Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart