Normal view
MARC view
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов [учебник для вузов по специальности "Полупроводниковые и микроэлектронные приборы"] Л. П. Павлов
Material type:
TextPublication details: Москва Высшая школа 1987Edition: Изд. 2-е, перераб. и допDescription: 238, [1] с. ил. 22 смSubject(s): учебные издания для вузов | полупроводниковые материалы, методы измерения | электрофизические параметры полупроводников | удельное сопротивление полупроводников | Холла эффекты | магниторезистивный эффект | носители заряда в полупроводниках | носители заряда неравновесные | дрейф носителей заряда | диффузия носителей заряда неравновесных | фотопроводимость полупроводников | фототоки полупроводников | p-n переходы | фотолюминесценция | фотомагнитоэлектрические эффекты | вольт-фарадные характеристики | оптические константы | спектральные приборы | Фарадея эффектыOther classification: 47.09 | 31.233я73
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-651889к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000783107 | ||
| 1 месяц | Книгохранилище | 1-650171 (Browse shelf (Opens below)) | 1 | Available | 13820000390758 |
Загл. 1-го изд.: Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов
Библиогр.: с. 237
There are no comments on this title.