Дифракционный структурный анализ учебное пособие Э. В. Суворов.
Material type:
TextLanguage: Russian Series: Высшее образованиеPublication details: Москва Юрайт 2023Edition: 2-е изд. пер. и допDescription: 309 сISBN: 978-5-534-15004-9Subject(s): Физика. Астрономия | Естественные науки | Дифракционный структурный анализ | Оптика | Оптическая физика | Оптические измерения | Основы оптики | Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий | Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе | Основы рентгеновской дифрактометрии | Методы исследования материалов и композитов | Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей | Распространение и дифракция электромагнитных волн | Физическая оптика | Основы рентгеноструктурного анализа | Рентгеноструктурный анализ наноматериалов | Дифракционные и микроскопические методы | Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур | Дифракционные и магнитные методы исследования вещества | Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел | Физика дифракции | Структурный анализ и моделирование систем | Рентгеновские методы | Основы физической оптики | Рентгеновские методы исследования материалов | Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов | Колебательные спектры кристаллов | Основы структурного анализа | Резонансные методы исследования вещества | Современные методы магнитного резонанса | Структурный анализ | Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей | Методы структурного анализа материалов и контроля качества | Применение методов молекулярной спектроскопии | Применение рентгеновских методов исследования | Методы рентгеновской визуализации | Цифровые приемники рентгеновского изображения | Физико-химия композитов | Классические задачи теории дифракции | Рентгеновская оптика | Дифракционные методы исследования структуры | Рентгенография и рентгеноструктурный анализ | Специальные методы структурного анализа | Рентгеноструктурный анализ материалов | Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов | Математическое моделирование в теории дифракции | Дифракционная и интерференционная оптика | Физика кристаллических материалов | Дифракционные методы исследования вещества | Современные методы структурного анализа | Физика рентгеновских лучей | Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов | Дифракционные методы анализа материалов | Рентгеноструктурный анализ | Теория дифракции электромагнитных волн | Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн | Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах | Магнитные резонансы в твердых телах | Рентгеновские методы анализа | Основы дифракционного структурного анализа | Квантово-механические методы моделирования наноматериалов | Методы структурного анализа материалов | Техника рентгеноструктурного анализа | Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий | Дифракционные методы | Магнитная симметрия | Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции | Рентгеновская дифракция | Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов | Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии | Технологии структурного анализа | Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов | Методы структурного анализа | Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов | Рентгеновское оборудование | Дифракционные методы анализа веществ и материалов | Методы структурного анализа и контроль качества изделийOther classification: 22.343.4я73 Online resources: Click here to access online | Click here to access online Summary: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 31.01.2024).
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей
There are no comments on this title.