Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (4)
-
Authors
- Алов, Николай Викторович (1)
- Василенко, Иван Александрович (1)
- Глазов, Василий Михайлович (1)
- Гольдштрах, Марианна Александровна (1)
- Ермаков, Сергей Сергеевич (1)
- Зенкевич, Игорь Георгиевич (1)
- Ищенко, Анатолий Александрович (1)
- Карцова, Людмила Алексеевна (1)
- Мейснер, Людмила Леонидовна (1)
- Москвин, Леонид Николаевич (1)
- Ормонт, Борис Филиппович (1)
- Савицкая, Лидия Константиновна (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Абонемент [x]
- Книгохранилище (4)
- Читальный зал 5 (3)
- Абонемент. Депозитарий (3)
- Факультетская библиотека (2)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (4)
- 6 месяцев (4)
- 1 неделя (3)
- 1 месяц (1)
- Выдается по месту хранения (1)
-
Topics
- кристаллические решетки (2)
- рентгеновский фазовый анализ (2)
- учебные пособия для вузов (2)
- Косселя метод (1)
- Полупроводники - Химия - Учебники и пособия (1)
- Эвальда-Лауэ динамическая теория (1)
- автоматизация химического анализа (1)
- аналитическая химия (1)
- аналитические системы (1)
- бикристаллы (1)
- вещественный анализ (1)
- взаимодействие рентгеновских лучей с веществом (1)
- диаграммы состояния полупроводников (1)
- дифракция (1)
- дифференциальная сканирующая калориметрия (1)
- диффузионная кинетика (1)
- изотопный анализ (1)
- качественный химический анализ (1)
- кинетические методы анализа (1)
- классификация измерений (1)
- количественный химический анализ (1)
- компьютерное моделирование (1)
- кристаллические подложки (1)
- кристаллохимия полупроводников (1)
- кристаллы идеальные (1)
- кристаллы кубические (1)
- кристаллы неограниченные (1)
- кристаллы несовершенные (1)
- кристаллы с дефектами упаковки (1)
- кристаллы тонкие (1)
- лауэграммы (1)
- масс-спектрометрия (1)
- математические методы анализа (1)
- методики химического анализа (1)
- метрология химического анализа (1)
- молекулярный анализ (1)
- монокристаллы (1)
- напряжения остаточные (1)
- объекты химического анализа (1)
- отбор проб (1)
- отражательная способность интегральная (1)
- погрешности (1)
- подтверждающий химический анализ (1)
- поликристаллы (1)
- разведочный химический анализ (1)
- рассеяние лучей в кристаллах (1)
- рекристаллизация (1)
- рентгеновская дилатометрия (1)
- рентгеновская дифрактометрия (1)
- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (1)
- Show more
- Show less