Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
- Сергеев, Алексей Георгиевич [x]
- Латышев, Михаил Владимирович (1)
-
Locations
- Книгохранилище (2)
- Абонемент (1)
- Абонемент. Депозитарий (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (2)
- 6 месяцев (1)
-
Topics
- Исследование (1)
- Метрология (1)
- Наноструктуры (1)
- Сканирующая микроскопия зондовая (1)
- аккредитация (1)
- калибровка в нанотехнологии (1)
- качество сертификации (1)
- концепция нанометрологии (1)
- микроскопы зондовые атомно-силовые измерительные (1)
- наноизмерения (1)
- нанометровый диапазон (1)
- научно-техническое обеспечение (1)
- неопределенность наноизмерений (1)
- нормативно-методическое обеспечение (1)
- образцы документов (1)
- организационное обеспечение нанометрологии (1)
- поверка в нанотехнологии (1)
- погрешности измерений (1)
- сертификационные испытания (1)
- сертификация наноиндустрии (1)
- сертификация продукции (1)
- сканирующая зондовая микроскопия (1)
- стандартизация (1)
- стандартизация наноиндустрии (1)
- статистические методы (1)
- техническое обеспечение нанометрологии (1)
- учебные пособия для вузов (1)
- экологическая сертификация (1)
- электронные микроскопы растровые измерительные (1)
- Show more
- Show less