Normal view
MARC view
Рентгеновская дифракционная топография дефектов в кристалах на основе эффекта Бормана Л. Н. Данильчук, А. О. Окунев, В. А. Ткаль ; Новгородский гос. ун-т им. Ярослава Мудрого
Material type:
TextPublication details: Великий
Новгород [б. и.] 2006Description: 493 с. илISBN: 5898963030Subject(s): Бормана эффект | рентгенотопографические изображения | дефекты кристаллов | дефекты монокристаллов | цифровая обработка изображений | поляризационно-оптические изображения | аппаратно-программное обеспечение | фильтрация изображений | вейвлет-анализ | макрополя деформаций | микродефекты кристаллов | монокристаллы полупроводников | дислокационные структуры | дефекты упаковки в монокристаллах | эпитаксиальные слои германия | эпитаксиальные слои кремния | эпитаксиальный рост кристаллов | производство интегральных микросхем | производство полупроводниковых приборов
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-955532к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000587389 |
Библиогр.: с. 464-493
There are no comments on this title.