Normal view
MARC view
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [учебное пособие для вузов по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение"] М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др ; под общ. ред. М. М. Криштала]
Material type:
TextLanguage: Russian Series: Мир физики и техникиPublication details: Москва Техносфера 2009Description: 206 с. ил., цв. ил., табл. 21 смISBN: 9785948362007Subject(s): электронная микроскопия сканирующая | рентгеноспектральный микроанализ | электронные микроскопы сканирующие | LEO 1455 VP, электронный микроскоп сканирующий | поверхности разрушения материалов | усталостное разрушение | трещинное разрушение | транскристаллическое разрушение | дефекты материалов конструкционных | идентификация дефектов материалов | поверхностные дефекты материалов | интерпретация данных электронной микроскопииOther classification: В338.28я7
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-989553к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000734478 | |
| 6 месяцев | Абонемент | 53 С423 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000734477 | |
| 1 месяц | Читальный зал. Депозитарий | 537 C423 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000764958 |
Библиогр. в конце гл.
There are no comments on this title.