Normal view
MARC view
Digital 3D X-ray microtomographic scanners for electronic equipment testing S. A. Klestov
Material type: ArticleContent type: Текст Media type: электронный Subject(s): рентгеновская микротомография | 3D сканеры | тестирование электронного оборудованияGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Интеллектуальные системы 4-й промышленной революции : сборник материалов III Международного форума, г. Томск, 26-27 ноября 2019 г С. 134-136No physical items for this record
Библиогр.: 3 назв.
There are no comments on this title.