Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

  • Your search returned 3 results.

    1.
    Microstructure-based computational analysis of plastic strain localization and fracture in polycrystalline aluminum M. V. Sergeev, R. R. Balokhonov, V. A. Romanova

    by Sergeev, Maxim V | Balokhonov, Ruslan R | Romanova, Varvara A.

    Source: Международная конференция "Физическая мезомеханика. Материалы с многоуровневой иерархически организованной структурой и интеллектуальные производственные технологии", посвященная 90-летию со дня рождения основателя и первого директора ИФПМ СО РАН академика Виктора Евгеньевича Панина в рамках Международного междисциплинарного симпозиума "Иерархические материалы: разработка и приложения для новых технологий и надежных конструкций", 5-9 октября 2020 года, Томск, Россия : тезисы докладовMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    2.
    О натуре зерна Вып. 1 (вес зерна в объеме одной четверти) [соч.] М. Р. Дульского

    by Дульский, М. Р.

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Publication details: Минусинск Типография А. Ф. Метелкина 1910Availability: No items available :
    3.
    Напряженно-деформированные состояния ЖРД [Н. А. Махутов, В. С. Рачук, М. М. Гаденин и др.] ; под ред. Н. А. Махутова, В. С. Рачука ; Российская акад. наук, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова

    by Махутов, Николай Андреевич, 1937- | Рачук, Владимир Сергеевич | Гаденин, Михаил Матвеевич.

    Series: Исследования напряжений и прочности ракетных двигателейMaterial type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Language: Russian Publication details: Москва Наука 2013Availability: No items available :