Normal view
MARC view
Построение проверяющих тестов для одиночных и кратных неисправностей на полюсах элементов схем, синтезированных на базе ПЛИС (FPGA)-технологий А. Ю. Матросова, Е. С. Луковникова
Material type:
ArticleSubject(s): программные средства | аппаратные средства | труды ученых ТГУ | комбинационные схемы
In:
Доклады VI Сибирской научной школы-семинара с международным участием "Компьютерная безопасность и криптография"- SIBECRYPT' 07 Республика Алтай, Горно-Алтайск, ГАГУ, 4-7 сентября 2007 г. С. 229-241
No physical items for this record
Библиогр.: 10 назв.
There are no comments on this title.