Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Абонемент [x]
- Книгохранилище (2)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Факультетская библиотека (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (2)
- 6 месяцев (2)
- 1 месяц (1)
-
Topics
- погрешности измерений [x]
- Исследование (1)
- Метрология [x]
- Наноструктуры (1)
- Сканирующая микроскопия зондовая (1)
- данные измерений поверхности (1)
- измерительные приборы (1)
- калибровка в нанотехнологии (1)
- калибровка приборов (1)
- качество поверхности, контроль (1)
- концепция нанометрологии (1)
- метрология поверхности (1)
- микроскопы зондовые атомно-силовые измерительные (1)
- наноизмерения (1)
- нанометровый диапазон (1)
- некруглость поверхности (1)
- неопределенность наноизмерений (1)
- несферичность поверхности (1)
- нецилиндричность поверхности (1)
- оптические методы (метрология поверхности) (1)
- организационное обеспечение нанометрологии (1)
- поверка в нанотехнологии (1)
- погрешности поверхности (1)
- профиль поверхности (1)
- сертификация наноиндустрии (1)
- сканирующая зондовая микроскопия (1)
- сканирующая микроскопия (1)
- стандартизация наноиндустрии (1)
- техническое обеспечение нанометрологии (1)
- технология обработки поверхностей (1)
- учебные справочники (1)
- численные методы анализа (1)
- шероховатость поверхности (1)
- щуповые приборы (1)
- электронные микроскопы растровые измерительные (1)
- Show more
- Show less