Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (3)
-
Authors
- Сергеев, Алексей Георгиевич [x]
- Терегеря, Владимир Васильевич (1)
-
Locations
- Абонемент. Депозитарий (3)
- Книгохранилище (2)
- Читальный зал 5 (1)
- Абонемент (1)
-
Item types
- 6 месяцев [x]
- Выдается в читальный зал (2)
- Выдается по месту хранения (1)
-
Topics
- погрешности измерений [x]
- единицы физических величин (2)
- качество измерений (2)
- международная система единиц (2)
- метрологическая надежность (2)
- метрологические характеристики (2)
- метрологическое обеспечение (2)
- нормирование метрологических характеристик (2)
- параметры технических систем (2)
- системы физических величин (2)
- средства измерений (2)
- техника измерений (2)
- ГОСТ Р, система сертификации (1)
- Государственная система стандартизации (1)
- Исследование (1)
- Метрология (1)
- Наноструктуры (1)
- СИ, международная система единиц (1)
- Сканирующая микроскопия зондовая (1)
- аккредитация (1)
- виды измерений (1)
- виды стандартов (1)
- выбор средств измерений (1)
- государственный метрологический контроль (1)
- государственный метрологический надзор (1)
- зарубежная сертификация (1)
- изменения погрешностей, модели (1)
- измерения динамические (1)
- измерительные системы (1)
- калибровка в нанотехнологии (1)
- категории стандартов (1)
- концепция нанометрологии (1)
- международная сертификация (1)
- методы измерений (1)
- методы стандартизации (1)
- метрологическая аттестация (1)
- метрологическая экспертиза (1)
- метрологические организации (1)
- метрологические службы (1)
- метрология (1)
- микроскопы зондовые атомно-силовые измерительные (1)
- наноизмерения (1)
- нанометровый диапазон (1)
- национальная система аккредитации (1)
- неопределенность наноизмерений (1)
- нормативно-правовые основы метрологии (1)
- нормативные документы по метрологии (1)
- нормирование погрешностей измерений (1)
- обработка результатов измерений, методы (1)
- организационное обеспечение нанометрологии (1)
- Show more
- Show less