Normal view
MARC view
Примерная программа учебной дисциплины "Экспериментальныне методы исследования и основы метрологии нанообъектов" [сост.: Э. А. Ильичев, С. Б. Бурзин ; ред. Е. Г. Кузнецова] ; Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т)
Material type:
TextSeries: Учебно-методический комплекс для бакалавров. Направление "Наноэлектроника"Publication details: Москва МИЭТ 2011Description: 40 с. таблSubject(s): учебные программы | нанообъекты | метрология | измерительные системы | измерения физических параметров | измерение наноразмерных перемещений | измерение наноразмерных длин | ошибки измерений
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-998686к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000792315 |
Сост. указ. на обороте тит. л.
Библиогр.: с. 13-14, 39
There are no comments on this title.