Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Your search returned 2 results.

1.
Разработка алгоритмов функционального тестирования ОЗУ ЭВМ А. С. Новиков, С. Г. Шаршунов

by Новиков, А. С | Шаршунов, Сергей Георгиевич.

Source: Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" (Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г.)Material type: Article Article; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Availability: No items available :
2.
Подход к проблеме функционального тестирования управляющего оборудования RISC-микропроцессоров О. Ю. Кузнецов, С. Г. Шаршунов

by Кузнецов, О. Ю | Шаршунов, Сергей Георгиевич.

Source: Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" (Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г.)Material type: Article Article; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Availability: No items available :