Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Точечные дефекты в полупроводниках экспериментальные аспекты Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича

By: Бургуэн, ЖакContributor(s): Ланно, Мишель | Гуревич, В. Л [edt]Material type: TextTextPublication details: Москва Мир 1985Description: 304 с. илOther title: Point Defects in Semiconductors [Parallel title]Subject(s): полупроводники | дефекты точечные | Яна-Теллера эффект | электронный парамагнитный резонанс | оптические свойства полупроводников | генерация носителей тока | регенерация носителей тока | электрические свойства полупроводников | фотовозбуждение полупроводников | взаимодействие излучения с твердым телом | отжиг дефектов полупроводников | кристаллические решетки полупроводников | туннельные состояния двухуровневые | проводимость полупроводников | взаимодействие дефектов полупроводников | примесные центры полупроводниковOther classification: 539.219.1:538.91
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Item type Current library Call number Status Date due Barcode
Выдается в читальный зал Книгохранилище 1-598264к (Browse shelf (Opens below)) Available 13820000783283
1 месяц Книгохранилище 1-589250 (Browse shelf (Opens below)) Available 13820000783284

Библиогр.: с. 9, 289-297

Предм. указ.: с. 298-300

There are no comments on this title.

to post a comment.