Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

  • Your search returned 4 results.

    1.
    2.
    3.
    4.
    Фундаментальные основы анализа нанопленок Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. рус. изд. А. Н. Образцов ; Московский гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образовательный центр по нанотехнологиям

    by Альфорд, Терри Л | Фельдман, Леонард К | Майер, Джеймс В, 1930- | Образцов, А. Н [edt].

    Series: Фундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебникиMaterial type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Language: Russian Original language: English Publication details: Москва Научный мир 2012Other title: Fundamentals of nanoscale film analysis.Availability: No items available :