Normal view
MARC view
Материаловедение и технологии электроники учебное пособие : [для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 (210100) "Электроника и наноэлектроника", 28.03.01 (222900) "Нанотехнологии и микросистемная техника", 12.03.02 (200400) "Оптотехника", 27.03.01 (221700) "Стандартизация и метрология", 11.03.03 (211000) "Конструирование и технология электронных средств", 12.03.01 (200100) "Приборостроение", 20.04.01 (280700) "Техносферная безопасность", 12.05.01 (200401) "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения"] В. И. Капустина, А. С. Сигов
Material type: TextSeries: Высшее образование: Бакалавриат | Электронно-библиотечная система "Znanium.com"Publication details: Москва ИНФРА-М 2023Description: 425, [1] с. ил., таблContent type: Текст Media type: непосредственный ISBN: 9785160089669; 9785161012208Subject(s): материалы электроники | материаловедение физическое | материалы, фазовые состояния | материалы, диаграммы состояния | материалы, структура | материалы, свойства | материалы, физико-химический анализ | материалы, классификация | конструкционные материалы электроники, типы | функциональные материалы электроники, типы | материалы электроники, испытания | материалы электроники, технологии получения | металлические материалы | порошки металлов | нанопорошки металлов | оксиды металлов | нитриды металлов | плазменные технологии получения материалов | диэлектрические материалы | сегнетоэлектрические материалы | микроэлектроника, технологии | полупроводниковые материалы, методы контроля дефектов | материалы электронной техники | аналитические методы исследования | физика поверхности материалов | электронная спектроскопия | ионная спектроскопия | фотонная спектроскопия | единицы измерения несистемные физических величин материаловItem type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|
Выдается по месту хранения | Читальный зал 5 | 621.3 К207 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820001055411 |
There are no comments on this title.