Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

  • Your search returned 3 results.

    1.
    Рентгенотопографические исследования дислокационной структуры эпитаксиальных слоев GeSi, выращенных на вицинальных подложках Si (001) А. Ю. Красотин, А. В. Колесников, Е. М. Труханов и др.

    by Красотин, А. Ю | Колесников, Алексей Викторович | Труханов, Евгений Михайлович.

    Source: Физика твердого тела : сборник материалов X Российской научной студенческой конференции, 4-6 мая 2006 г., Томск, РоссияMaterial type: Article Article; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Availability: No items available :
    2.
    3.
    Дефекты структуры в полупроводниках материалы Всесоюзного совещания по дефектам в полупроводниках [2-4 октября 1973 г.] Ин-т физики полупроводников СО Акад. наук СССР ; [отв. ред. С. И. Стенин ; отв. за вып. Е. М. Труханов]

    by Стенин, Сергей Иванович, 1940-1990 [edt] | Труханов, Евгений Михайлович [mon] | Всесоюзное совещание по дефектам в полупроводниках 2 1973 Новосибирск.

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Language: Russian Publication details: Новосибирск [б. и.] 1973Availability: No items available :