Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
- Асеев, Александр Леонидович [x]
- Ваулин, Юрий Дмитриевич (1)
- Двуреченский, Анатолий Васильевич (1)
- Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова (Новосибирск) (1)
- Латышев, Александр Васильевич (1)
- Стенин, Сергей Иванович (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (2)
- Абонемент. Депозитарий (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (2)
- 1 месяц (2)
- 6 месяцев (1)
-
Topics
- дислокации в полупроводниках (2)
- молекулярно-лучевая эпитаксия (2)
- поверхности полупроводников (2)
- полупроводниковые пленки (2)
- Полупроводниковые соединения (1)
- Структура (1)
- арсенида галлия структуры (1)
- вычислительные системы пространственно-распределенные (1)
- германий (1)
- германий-арсенид галлия (1)
- гетероструктуры (1)
- гетероэпитаксиальные структуры (1)
- ионная имплантация (1)
- квантовая информатика экспериментальная (1)
- квантовые точки (1)
- квантовые ямы (1)
- когерентные переходные процессы (1)
- кремний (1)
- кристаллические решетки полупроводников (1)
- лазерная спектроскопия (1)
- микроэлектроника (1)
- монокристаллы (1)
- наногетероструктуры (1)
- нанокластеры кремниевые (1)
- нанолитография (1)
- наноматериалы (1)
- нанополупроводники (1)
- нанополупроводниковые структуры (1)
- наноструктуры (1)
- наноструктуры трехмерные (1)
- нанотехнологии (1)
- нанотранзисторы кремний-на-изоляторе (1)
- наноэлектроника (1)
- нитридгаллиевые структуры (1)
- оптико-информационные ситемы (1)
- оптико-электронные приборы наблюдения (1)
- оптическая эллипсометрия (1)
- оптоэлектроника (1)
- параллельное мультипрограммирование (1)
- пленка-подложка (1)
- полупроводниковая оптоэлектроника (1)
- полупроводниковая фотоэлектроника (1)
- полупроводниковые гетеросистемы (1)
- полупроводниковые кристаллы (1)
- полупроводниковые материалы (1)
- радиационные процессы в полупроводниках (1)
- структурные перестройки (1)
- тепловидение спектрально-узкополосное (1)
- точечные дефекты (1)
- транзисторы одноэлектронные (1)
- Show more
- Show less