Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (3)
- Статьи из сериальных изданий (1)
-
Authors
- Ткаль, Валерий Алексеевич (2)
- Дитенберг, Иван Александрович (1)
- Дробышев, Валерий Андреевич (1)
- Окунев, Алексей Олегович (1)
- Плохов, Александр Васильевич (1)
- Потапенко, Михаил Михайлович (1)
- Синдеев, Виктор Иванович (1)
- Токарев, А. О. (1)
- Тушинский, Леонид Иннокентьевич (1)
- Тюменцев, Александр Николаевич (1)
- Цверова, Анастасия Сергеевна (1)
- Чернов, Вячеслав Михайлович (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (2)
-
Item types
-
Topics
- электронная микроскопия [x]
- гетероструктуры многослойные (2)
- излучение синхротронное (2)
- монокристаллы, дефекты структуры (2)
- наноструктуры (2)
- тонкие пленки (2)
- топографические изображения, дефекты монокристаллов (2)
- Монокристаллы (1)
- ванадиевые сплавы (1)
- дефекты структуры (1)
- дефекты структуры материалов (1)
- дислокационные структуры (1)
- защитные свойства покрытий (1)
- износостойкость покрытий (1)
- испытания на изнашивание (1)
- исследования материалов, методы (1)
- макродефекты (1)
- мартенситные превращения (1)
- мезодефекты (1)
- металл-покрытие, прочность соединения (1)
- металлографический анализ (1)
- методы исследований кристаллов (1)
- методы определения (1)
- механизмы деформации (1)
- механические свойства покрытий (1)
- микродефекты (1)
- микроструктуры сплавов (1)
- многослойные оптические структуры (1)
- монокристаллы, выращивание (1)
- монокристаллы, микродефекты (1)
- наноразмерные дефекты (1)
- наноструктурные состояния (1)
- оптические изображения, дефекты монокристаллов (1)
- пластическая деформация (1)
- пластические деформации (1)
- пластичность (1)
- поликристаллы (1)
- полупроводниковые структуры, дефекты (1)
- разрушения материалов (1)
- растровая электронная микроскопия (1)
- резонансные методы (1)
- свойства материалов (1)
- синхротронное излучение (1)
- сплав V-4Ti-4Cr (1)
- структура материалов (1)
- структурные исследования (1)
- структурные модели (1)
- технология нанесения покрытий (1)
- топография рентгеновская секционная (1)
- трещиностойкость (1)
- Show more
- Show less