Normal view
MARC view
Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой
Material type:
TextPublication details: Москва Техносфера 2017Description: 327 с. рис., таблISBN: 9785948364261Subject(s): радиоэлектронная аппаратура | СВЧ транзисторы, проектирование | СВЧ транзисторы, производство | технологическая безопасность | стандарты отечественные | стандарты зарубежные | СВЧ-транзисторы на широкозонных полупроводниках | полупроводниковые материалы, свойства | полупроводниковые материалы, технология создания | контроль входной | контроль технологический | контроль подложек | гетероэпитаксиальные структуры | СВЧ приборы, элементы конструкции | СВЧ приборы, исходные материалы | контроль электрический | контроль тепловой | выявление дефектов, методы | оптическая микроскопия | Эллипсометрия | спектральная зависимость оптической рефракции | оптический контроль шлифов | гетероструктуры широкозонных материалов, качество | омические контакты, качество | рентгеновский контроль | электронная микроскопия | атомно-силовая микроскопия | пространственное распределение элементов гетероструктур | электронная спектроскопия | ионная спектроскопия | СВЧ аппаратура на нитрид-галлиевых приборах
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается по месту хранения | Читальный зал 5 | 621.3 Г901 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000983181 |
Библиогр.: с. 302-327
There are no comments on this title.