Normal view
MARC view
Экспериментальные методы исследования Электронный ресурс методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : [учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров "Техническая физика"] Н. В. Андреева, П. Г. Габдуллин, А. М. Журкин ; Санкт-Петербург. гос. политехнический ун-т
Material type:
TextPublication details: Санкт-Петербург Издательство Санкт-Петербургского государственного политехнического университета 2015Description: 1 онлайн-ресурс (103, [1] с.) илISBN: 9785742246473Subject(s): электронные учебные пособия для вузов | сканирующая туннельная микроскопия | туннелирование квантовое микроскопическое | физическая электроника | взаимодействие частиц с поверхностью твердого тела | эмиссия электронов | потенциальные барьеры | Зоммерфельда модель металла | туннельные контакты | сканирующие туннельные микроскопы | сканирующие зондовые микроскопы | полупроводники | модуляция туннельного тока | туннелирование квантовое микроскопическое | визуализация поверхностей | сканирующая зондовая микроскопия | плотность электронных состояний | сканирующая туннельная спектроскопия | металл-полупроводник, контакты | атомно-силовая микроскопия | кантилеверы | сканеры | системы обратной связи | система подвода зонда к образцу | обработка изображений | фильтрация изображений | анализ изображений | лабораторные работыOnline resources: Click here to access online
No physical items for this record
Библиогр.: с. 102-103
There are no comments on this title.