Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Основы диагностики технических устройств и сооружений Г. А. Бигус, Ю. Ф. Даниев, Н. А. Быстрова, Д. И. Галкин

Contributor(s): Бигус, Георгий Аркадьевич | Даниев, Юрий Фаизович | Быстрова, Наталья Альбертовна | Галкин, Денис ИгоревичMaterial type: TextTextLanguage: Russian Publication details: Москва Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана 2018Edition: 2-е издDescription: 445 с. ил., таблISBN: 9785703848043Subject(s): техническая диагностика | диагностические параметры | методы неразрушающего контроля | методы полуразрушающего контроля | методы разрушающего контроля | акустическая эмиссия | акустико-эмиссионный контроль | вибродиагностика | вибросигналы | шумодиагностика | вибродиагностика трубопроводов | диагностика внутритрубная | магистральные трубопроводы, дефекты | дефектоскопы внутритрубные | теория надежности | вероятностно-статистические методы | показатели надежности, методика расчета | ресурс опасных производственных объектов, виды | ресурс опасных производственных объектов, оценка | ресурс опасных производственных объектов, прогнозирование | ресурс опасных производственных объектов, вероятностные модели | остаточный ресурс потенциально опасных объектовOther classification: Ж820.51,0
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Item type Current library Call number Status Date due Barcode
Выдается по месту хранения Читальный зал 5 62 О-753 (Browse shelf (Opens below)) Available 13820000993397

Авт. указаны на обороте тит. л.

Библиогр.: с. 436-445

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share