Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (3)
-
Authors
- Баженов, Сергей Леонидович (3)
- Брандон, Дэвид (2)
- Каплан, У. (2)
- Егорова, О. В. (1)
- Кларк, Эшли Р. (1)
- Эберхардт, Колин Н. (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (3)
- Читальный зал 5 (1)
- Абонемент (1)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Факультетская библиотека (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (3)
- 1 неделя (1)
- 1 месяц (1)
- 6 месяцев (1)
-
Topics
- электронная микроскопия растровая (3)
- Брэгга уравнение (2)
- Лауэ уравнение (2)
- Оже-электроны (2)
- дифракционный анализ (2)
- дифракция электронов (2)
- интерференционная микроскопия (2)
- кристаллические решетки (2)
- кристаллические структуры (2)
- оптическая микроскопия (2)
- полупроводники (2)
- рентгеновский микроанализ (2)
- химический анализ поверхности (2)
- электронная микроскопия [x]
- электронная микроскопия просвечивающая (2)
- электроны вторичные (2)
- электроны отраженные (2)
- Кикучи диаграммы (1)
- Конструкционные материалы (1)
- Материалы (1)
- Микроскопические исследования (1)
- Микроскопы мезооптические (1)
- Микроструктура (1)
- Миллера индексы (1)
- автоматизированный анализ (1)
- акустическая микроскопия (1)
- аморфные фазы (1)
- аналогоцифровые преобразователи (1)
- анизотропия (1)
- атомные решетки (1)
- взаимодействие электромагнитного излучения с материалом (1)
- волокнистые материалы (1)
- геометрическая оптика (1)
- гетерогенность (1)
- гомогенность (1)
- дислокации (1)
- дифрактограммы (1)
- дифрактограммы решетки (1)
- дифракция динамическая (1)
- изотропия (1)
- интерметаллы (1)
- ионная масс-спектрометрия (1)
- картография ультразвуковая трехмерная (1)
- катодолюминесценция (1)
- керамика поликристаллическая (1)
- керамики (1)
- количественные методы микроанализа (1)
- композиционные материалы (1)
- компьютерная оптическая микроскопия (1)
- константы упругости (1)
- Show more
- Show less