Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (5)
-
Authors
-
Locations
- Книгохранилище [x]
- Абонемент (3)
- Абонемент. Депозитарий (3)
- Читальный зал 5 (2)
- Факультетская библиотека (2)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (5)
- 1 месяц (3)
- 6 месяцев (3)
- 1 неделя (2)
-
Topics
- электронная микроскопия растровая (3)
- Брэгга уравнение (2)
- Лауэ уравнение (2)
- Оже-электроны (2)
- дифракционный анализ (2)
- дифракция электронов (2)
- интерференционная микроскопия (2)
- кристаллические решетки (2)
- кристаллические структуры (2)
- оптическая микроскопия (2)
- полупроводники (2)
- рентгеновский микроанализ (2)
- химический анализ поверхности (2)
- электронная микроскопия (2)
- электронная микроскопия просвечивающая (2)
- электроны вторичные (2)
- электроны отраженные (2)
- Кикучи диаграммы (1)
- Конструкционные материалы (1)
- Контрольно-измерительные инструменты и приборы автоматические (1)
- Материалы (1)
- Микроскопические исследования (1)
- Микроскопы мезооптические (1)
- Микроструктура (1)
- Миллера индексы (1)
- Техническая диагностика автоматическая (1)
- автоматизированный анализ (1)
- акустическая микроскопия (1)
- аморфные фазы (1)
- аналогоцифровые преобразователи (1)
- анизотропия (1)
- армированные материалы (1)
- атомные решетки (1)
- биоматериалы (1)
- взаимодействие электромагнитного излучения с материалом (1)
- вибрации конструкций (1)
- волокна углеродные (1)
- волокнистые материалы (1)
- гармоники колебаний (1)
- геометрическая оптика (1)
- гетерогенность (1)
- гомогенность (1)
- горючесть композитов полимерных (1)
- датчики оптоволоконные (1)
- демпфирование (1)
- дислокации (1)
- дифрактограммы (1)
- дифрактограммы решетки (1)
- дифракция динамическая (1)
- диффузионные свойства композитов полимерных (1)
- Show more
- Show less