Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (16)
-
Authors
- Баженов, Сергей Леонидович (3)
- Брандон, Дэвид (2)
- Каплан, У. (2)
- Чаплыгин, Юрий Александрович (2)
- Адамс, Брент Л. (1)
- Айхмайер, Джозеф А. (1)
- Боргардт, Николай Иванович (1)
- Бош, Эрнст (1)
- Вэнг, Джеймс С. (1)
- Горбацевич, Александр Алексеевич (1)
- Горшков, В. И. (1)
- Груздов, Вадим Владимирович (1)
- Егоркин, Владимир Ильич (1)
- Егорова, О. В. (1)
- Зауэр, Кеннет (1)
- Иванов, С. А. (1)
- Капаев, В. В. (1)
- Кларк, Эшли Р. (1)
- Колковский, Юрий Владимирович (1)
- Концевой, Юлий Абрамович (1)
- Корнфельд, Гюнтер (1)
- Криштал, Михаил Михайлович (1)
- Кукин, Владимир Николаевич (1)
- Мазуренко, Сергей Николаевич (1)
- Нолтинг, Б. (1)
- Оикава, Тецуо (1)
- Паглиси, Джозеф Д. (1)
- Полунин, Виктор Иванович (1)
- Рид, Стефан Дж. Б. (1)
- Синдо, Дайзуке (1)
- Тамм, Манфред К. (1)
- Тиноко, Игнасио (1)
- Фейллон, Жорж (1)
- Филд, Дэйвид П. (1)
- Фульц, Брент (1)
- Харрис, П. (1)
- Хау, Джеймс М. (1)
- Чернозатонский, Л. А. (1)
- Шварц, Адам Дж (1)
- Шварцер, Роберт А. (1)
- Эберхардт, Колин Н. (1)
- Эгертон, Рэй Ф. (1)
- Ясников, Игорь Станиславович (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (11)
- Читальный зал 5 (9)
- Абонемент. Депозитарий (7)
- Абонемент (6)
- Факультетская библиотека (5)
- Читальный зал. Депозитарий (1)
- Show more
- Show less
-
Item types
- Выдается в читальный зал (12)
- 6 месяцев (8)
- 1 месяц (7)
- 1 неделя (5)
- Выдается по месту хранения (5)
-
Topics
- электронная микроскопия [x]
- дифракция электронов (4)
- электронная микроскопия растровая (4)
- оптическая микроскопия (3)
- учебные пособия для вузов (3)
- электронная микроскопия просвечивающая (3)
- электронные микроскопы (3)
- Брэгга уравнение (2)
- ДНК (2)
- Лауэ уравнение (2)
- Оже-электроны (2)
- белки (2)
- взаимодействие электронов с твердыми телами (2)
- дифракционный анализ (2)
- зондовая микроскопия (2)
- зондовое окисление локальное (2)
- интерференционная микроскопия (2)
- катодолюминесценция (2)
- кристаллические решетки (2)
- кристаллические структуры (2)
- наноструктуры (2)
- полупроводники (2)
- рентгеновский микроанализ (2)
- химический анализ поверхности (2)
- электронная микроскопия аналитическая (2)
- электроны вторичные (2)
- электроны отраженные (2)
- ALCHEMI, метод (1)
- LEO 1455 VP, электронный микроскоп сканирующий (1)
- Oxford Instruments, системы электронно-зондового микроанализа (1)
- TEM, просвечивающая электронная микроскопия (1)
- XRD, рентгеновская дифрактометрия (1)
- Гейзенберга принцип неопределенности (1)
- Горные породы (1)
- Гюйгенса принцип (1)
- ДОЭ-анализ (1)
- ДОЭ-анализ фазовый (1)
- ДОЭ-карты трехмерные (1)
- Дифрактометрия (1)
- ИК-микроскопы (1)
- Кикучи диаграммы (1)
- Кикучи карты дифракции (1)
- Конструкционные материалы (1)
- Кулона закон (1)
- Лауэ дифракция (1)
- Маркуса теория (1)
- Материалы (1)
- Микроскопические исследования (1)
- Микроскопы мезооптические (1)
- Микроструктура (1)
- Show more
- Show less