Структура, микрорельеф и оптические свойства пленок железа, полученных методом термического испарения в вакууме В. А. Кочубей, В. В. Атучин, Л. Д. Покровский [и др.]
Material type: ArticleSubject(s): пленки железа | термическое испарение | микрорельеф | кристаллическая структура | оптические свойстваGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Фундаментальные проблемы современного материаловедения Т. 12, № 3. С. 338-345Abstract: В данной работе исследованы структура, микрорельеф и оптические свойства толстых, непрозрачных и тонких, полупрозрачных пленок железа, нанесенных на подложки из плавленого кварца и кремния методом термического испарения. Исследования структуры методом дифракции электронов высокой энергии на отражение показали, что поверхностный слой пленок железа является мелкокристаллическим поликристаллом железа (пр. группа симметрии Im3m) с выраженной текстурой. Кроме того, установлено присутствие очень слабой примеси кристаллов Fe2O3 (пр. группа симметрии Ia3). Методом атомной силовой микроскопии установлено, что поверхность пленок железа на кремнии является оптически гладкой с максимальным размером шероховатостей не превышающим 12-15 нм. Исследования оптических свойств пленок железа методом спектральной эллипсометрии позволили получить дисперсионные кривые показателя преломления, n(λ), и коэффициента поглощения, k(λ), в диапазоне длин волн λ = 250-1100 нм, как для толстых, так и для тонких пленок. Спектральные зависимости n(l) и k(l) пленок обоих типов оказались близки и качественно соответствовали типичным кривым n(l) и k(l) для металлов. Толщина полупрозрачных пленок измерялась методом лазерной эллисометрии на длине волны λ = 632,8 нм.Библиогр.: 21 назв.
В данной работе исследованы структура, микрорельеф и оптические свойства толстых, непрозрачных и тонких, полупрозрачных пленок железа, нанесенных на подложки из плавленого кварца и кремния методом термического испарения. Исследования структуры методом дифракции электронов высокой энергии на отражение показали, что поверхностный слой пленок железа является мелкокристаллическим поликристаллом железа (пр. группа симметрии Im3m) с выраженной текстурой. Кроме того, установлено присутствие очень слабой примеси кристаллов Fe2O3 (пр. группа симметрии Ia3). Методом атомной силовой микроскопии установлено, что поверхность пленок железа на кремнии является оптически гладкой с максимальным размером шероховатостей не превышающим 12-15 нм. Исследования оптических свойств пленок железа методом спектральной эллипсометрии позволили получить дисперсионные кривые показателя преломления, n(λ), и коэффициента поглощения, k(λ), в диапазоне длин волн λ = 250-1100 нм, как для толстых, так и для тонких пленок. Спектральные зависимости n(l) и k(l) пленок обоих типов оказались близки и качественно соответствовали типичным кривым n(l) и k(l) для металлов. Толщина полупрозрачных пленок измерялась методом лазерной эллисометрии на длине волны λ = 632,8 нм.
There are no comments on this title.