Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Физические основы неразрушающего СВЧ-резонаторного метода локального контроля электрофизических параметров полупроводников М. В. Детинко, Ю. В. Медведев, А. С. Петров ; Сиб. физ.-техн. ин-т им. В. Д. Кузнецова при Том. гос. ун-те

By: Детинко, Михаил ВладимировичContributor(s): Медведев, Юрий Васильевич, 1943- | Петров, Алексей Сергеевич, 1938-1996 | Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск) | Томский государственный университетMaterial type: TextTextSeries: ПрепринтPublication details: Томск Издательство Томского университета 1988Description: 29 с. илSubject(s): полупроводниковые материалы | электрофизические параметры полупроводников, измерение | резонаторы измерительные, теория | резонаторы измерительные, конструкции | диэлектрическая проницаемость полупроводников на СВЧ | поглощение электромагнитного поля полупроводниками | преобразователи измерительные радиоволновые | измерительные приборы неразрушающего контроля
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Item type Current library Call number Status Date due Barcode
1 месяц Книгохранилище 2-019340 (Browse shelf (Opens below)) Available 13820000888444
Выдается в читальный зал Книгохранилище 1-701385 (Browse shelf (Opens below)) Available 13820000868383

Библиогр.: с. 27-29

There are no comments on this title.

to post a comment.