Normal view
MARC view
Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов монография [А. А. Клопотов, Ю. А. Абзаев, А. И. Потекаев и др.] ; Нац. исслед. Том. политехн. ун-т, Том. гос. архитектурно-строит. ун-т, Сиб. физ.-техн. ин-т им. акад. В. Д. Кузнецова Том. гос. ун-та
Material type: TextPublication details: Томск Издательство Томского политехнического университета 2013Description: 263 с. рис., таблISBN: 9785438701972Subject(s): рентгеновское излучение | кристаллография геометрическая | дифрактограммы | кристаллические решетки | сингонии | фазовый анализ количественный | фазовый анализ качественный | рентгеновская дифрактометрия | взаимодействие рентгеновского излучения с веществом | поликристаллические материалы | Ритвельда метод рентгенофазного анализа полнопрофильныйGenre/Form: монографии Online resources: Click here to access onlineItem type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
Выдается по месту хранения | Читальный зал 5 | 548 Ф505 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000856372 | ||
Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 2-012879 (Browse shelf (Opens below)) | 1 | Available | 13820000853981 | |
1 месяц | Книгохранилище | 2-012880 (Browse shelf (Opens below)) | 2 | Available | 13820000853982 |
Авт. указ. на обороте тит. л.
Библиогр.: с. 262-263
There are no comments on this title.