Normal view
MARC view
Исследование характеристик наногетероструктур Si/Ge с квантовыми точками методом адмиттансной спектроскопии А. В. Войцеховский, В. Г. Сатдаров, А. П. Коханенко и др
Material type: ArticleSubject(s): квантовые точки | спектроскопия | кремний | германий | наногетероструктурыGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 55, № 9/2. С. 5-7No physical items for this record
Библиогр.: 5 назв.
There are no comments on this title.