Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках : экспериментальные аспекты / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича. - Москва : Мир, 1985. - 304 с.: ил.